⇚ powrót
mgr inż. Andrzej SIERAKOWSKI
Tytuł rozprawy: „Opracowanie metody pomiaru wymiarów krytycznych i optymalizacja procesu naświetlania z użyciem zintegrowanego mikroskopu bliskich oddziaływań i systemu bezpośredniego naświetlania wzoru”.
Promotor:
prof. dr hab. inż. Teodor GOTSZALK - Politechnika Wrocławska
Recenzenci:
prof. dr hab. inż. Zbigniew KOWALSKI - Politechnika Wrocławska
prof. dr hab. inż. Tadeusz PISARKIEWICZ - Akademia Górniczo-Hutnicza w Krakowie
Z rozprawą można się zapoznać w Bibliotece ITE, a ze streszczeniem i recenzjami także na stronie:
http://www2.ite.waw.pl/pl/przewody_doktorskie.php
Obrona Rozprawy Doktorskiej
2015-11-23
Dyrektor i Rada Naukowa Instytutu Technologii Elektronowej zawiadamiają, że dnia 7 grudnia 2015 roku o godzinie 11:30 w siedzibie Instytutu, Warszawa, Al. Lotników 32/46 bud. VI, pokój 120 (I piętro) odbędzie się publiczna obrona rozprawy doktorskiej, której autorem jest:Tytuł rozprawy: „Opracowanie metody pomiaru wymiarów krytycznych i optymalizacja procesu naświetlania z użyciem zintegrowanego mikroskopu bliskich oddziaływań i systemu bezpośredniego naświetlania wzoru”.
Promotor:
prof. dr hab. inż. Teodor GOTSZALK - Politechnika Wrocławska
Recenzenci:
prof. dr hab. inż. Zbigniew KOWALSKI - Politechnika Wrocławska
prof. dr hab. inż. Tadeusz PISARKIEWICZ - Akademia Górniczo-Hutnicza w Krakowie
Z rozprawą można się zapoznać w Bibliotece ITE, a ze streszczeniem i recenzjami także na stronie:
http://www2.ite.waw.pl/pl/przewody_doktorskie.php
