⇚ powrót
odbędzie się zaległe seminarium na którym
Dr inż. Adrian Drzazga (TESPOL, Wrocław) wygłosi seminarium pt.:
„Prezentacja metod i przyrządów pomiarowych dedykowanych do badań materiałów i przyrządów półprzewodnikowych”
W ramach seminarium zostaną omówione metody pomiarów właściwości materiałów półprzewodnikowych w zakresie niskich (począwszy od sygnałów DC) i wysokich częstotliwości z wykorzystaniem źródeł mierzących, analizatorów parametrycznych oraz wektorowych analizatorów sieciowych. Omówione zostaną podstawowe aplikacje pomiarowe ze szczególnym uwzględnieniem możliwości pomiarowych analizatora parametrycznego Keithley 4200A-SCS.
Po prezentacji uczestnicy spotkania będą mieli okazję zapoznać się z przyrządem Keithley 4200A-SCS, najnowszym multimetrem próbkującym DMM7510 o rozdzielczości 7 ½ cyfry oraz źródłem mierzącym Keithley 2461.
Zaproszenie na seminarium
2016-11-24
W dniu 2 grudnia 2016 r. o godz. 09:00
w sali konferencyjnej ITE (bud. VI, sala 120, Al. Lotników 32/46) odbędzie się zaległe seminarium na którym
Dr inż. Adrian Drzazga (TESPOL, Wrocław) wygłosi seminarium pt.:
„Prezentacja metod i przyrządów pomiarowych dedykowanych do badań materiałów i przyrządów półprzewodnikowych”
W ramach seminarium zostaną omówione metody pomiarów właściwości materiałów półprzewodnikowych w zakresie niskich (począwszy od sygnałów DC) i wysokich częstotliwości z wykorzystaniem źródeł mierzących, analizatorów parametrycznych oraz wektorowych analizatorów sieciowych. Omówione zostaną podstawowe aplikacje pomiarowe ze szczególnym uwzględnieniem możliwości pomiarowych analizatora parametrycznego Keithley 4200A-SCS.
Po prezentacji uczestnicy spotkania będą mieli okazję zapoznać się z przyrządem Keithley 4200A-SCS, najnowszym multimetrem próbkującym DMM7510 o rozdzielczości 7 ½ cyfry oraz źródłem mierzącym Keithley 2461.
