Offer

FIB

Examples of our FIB applications
read more

SEM

Examples of our SEM applications
read more

TEM

Examples of our TEM investigations
read more

Nasza oferta obej­muje ana­lizy mate­ria­łów i przy­rzą­dów prze­pro­wa­dzone przy uży­ciu tech­nik TEM, SEM i ska­nin­go­wej mikro­sko­pii jono­wej oraz wyko­na­nie mikro- i nano­pro­ce­sów przy uży­ciu tech­niki FIB w celu mody­fi­ka­cji lub cha­rak­te­ry­za­cji mate­ria­łów i przy­rzą­dów.