Pomiary, charakteryzacja

SEM

Przykłady zastosowań skaningowej mikroskopii elektronowej (SEM)
czytaj więcej

Opracowanie zautomatyzowanego systemu pomiarowego dla środowiska NI LabVIEW

Oferujemy opracowania zautomatyzowanego systemu pomiarowego w oparciu o środowisko NI LabVIEW przy zastosowaniu sieciowo sterowanych przyrządów pomiarowych.
czytaj więcej

Badania technoklimatyczne materiałów, podzespołów oraz urządzeń elektronicznych i elektrycznych

Specjalizujemy się w wykonywaniu badań odporności materiałów, podzespołów oraz urządzeń elektro- nicznych i elektrycznych na narażenia klimatyczne i mechaniczne. Mamy wieloletnie doświadczenie w wykonywaniu typowych badań klimatycznych (z uwzględnien
czytaj więcej

Charakteryzacja struktur niskowymiarowych spektroskopią warstwy ładunku przestrzennego

Udostępniamy metody charakteryzacji struktur niskowymiarowych oparte na spektroskopii warstwy ładunku przestrzennego  DLTS, pomiary C(I)-V, profilowanie C-V, spektroskopia admitancyjna. Metody te, rutynowo stosowane w celu charakteryzacji głę
czytaj więcej

Badania składu i jakości heterostruktur

Dysponujemy najnowszej klasy wysokorozdzielczym dyfraktometrem rentgenowskim umożliwiającym szybkie i precyzyjne zbieranie danych o strukturach.
czytaj więcej

Spektroskopia Fotoluminescencyjna

Udostępniamy system do pomiarów fotoluminescencji. Układ pozwala wykonywać zarówno badania podstawowe, jak i analizować własności emisyjne nowoczesnych urządzeń.
czytaj więcej

Pomiary fotowoltaiczne oraz czasu życia nośników

Zakład Badań Materiałów i Struktur Półprzewodnikowych specjalizuje się w strukturalnych, optycznych i elektrycznych metodach charakteryzacji.
czytaj więcej

Mikroskopia elektronowa oraz nanoprocesy na FIB

Specjalizujemy się w strukturalnych, optycznych i elektrycznych metodach charakteryzacji. W ofercie w zakresie mikroskopii elektronowej i nanotechnologii znajdują się: transmisyjna mikroskopia elektro-nowa (TEM), trawienie zogniskowaną wiązką jonów (
czytaj więcej

Pomiar właściwości materiałów i struktur półprzewodnikowych metodami optycznymi

Oferujemy wykorzystanie optycznych metod pomiarowych do kompleksowej charakteryzacji półprzewodników i ich powierzchni granicznych z izolatorami w przyrządach MIS. Pakiet stosowanych przez nas metod pozwala na ocenę jakości powierzchni, identyfikację
czytaj więcej

Pomiar parametrów struktury półprzewodnikowej metodami elektrycznymi i fotoelektrycznymi

Oferujemy wykorzystanie opracowanych elektrycznych i fotoelektrycznych metod pomiarowych do kompleksowej charakteryzacji półprzewodników i ich powierzchni granicznych z izolatorami w przyrządach MIS. Pakiet stoso- wanych przez nas metod pozwala na id
czytaj więcej
1 2