Pomiary, charakteryzacja

⇚ powrót

Badania składu i jakości heterostruktur

Dysponujemy najnowszej klasy wysokorozdzielczym dyfraktometrem rentgenowskim umożliwiającym szybkie i precyzyjne zbieranie danych o strukturach. Analiza wyników dyfrakcji otrzymanych próbek pozwala na określenie m. in.:

• składu chemicznego warstw epitaksjalnych heterostruktury;
• grubości warstw;
• jakości krystalicznej próbki (np. mozaika, pęknięcia);
• stopnia relaksacji warstwy epitaksjalnej.

Układ wyposażony jest w goniometr wertykalny umożliwiający pomiar kątów z dokładnością do 0,0001º, hybrydowy, czteroodbiciowy monochromator Ge (400), dwuwymiarowy detektor PIXCEL charakteryzujący się dużą dynamiką zliczeń (powyżej 3900x106 zliczeń/s) oraz analizator umożliwiający dużą prędkość skanowania przy jednoczesnym dużym stosunku sygnału do szumu. Rutynowo przeprowadzane są pomiary krzywej kołysania – skan ω (ang. rocking curve), skan 2θ/ w układzie trójosiowym, reflektometria oraz mapowanie węzłów sieci odwrotnej. Wykonywane są też zdjęcia topograficzne w celu ujawnienia sieci dyslokacji niedopasowania w zrelaksowanych strukturach epitaksjalnych. Dyfraktometr jest wyposażony w oprogramowanie umożliwiające analizę wyników eksperymentalnych. Obecnie specjalizujemy się w badaniach heterostruktur epitaksjalnych (QCL (AlGaAs/GaAs), supersieci II rodzaju InAs/GaSb, DBR (AlAs/GaAs), MQW (InGaAs/GaAs), AlGaAs).

WYNIK: Raport zawierający wszystkie zmierzone charakterystyki i parametry wraz z krótkich opisem przygotowany przez specjalistę
OGRANICZENIA I WYMAGANIA: Minimalny rozmiar próbki 3 mm x 3 mm.
KONTAKT:Iwona Sankowska isanko@ite.waw.pl, Justyna Kubacka-Traczyk traczyk@ite.waw.pl