⇚ powrót
Udostępniamy system do pomiarów fotoluminescencji. Układ pozwala wykonywać zarówno badania podstawowe, jak i analizować własności emisyjne nowoczesnych urządzeń.
System umożliwia wykonanie zarówno pomiarów w jednym punkcie na próbce, jak i pomiarów rozdzielczych przestrzennie. Najwyższa dostępna w układzie rozdzielczość pomiaru wynosi 0,5 μm. System daje również możliwość pomiarów w skali makro (zakres skanowania 50 x 50 mm). Można także wykonywać pomiary kątowo-rozdzielcze w temperaturze pokojowej oraz od 77 K, jak i w niższych temperaturach.
WYPOSAŻENIE:
WYNIK: Raport zawierający wyniki wraz z krótką charakterystyką próbek opracowany przez specjalistę
KONTAKT: Anna Wójcik-Jedlińska awojcik@ite.waw.pl
Spektroskopia Fotoluminescencyjna
System umożliwia wykonanie zarówno pomiarów w jednym punkcie na próbce, jak i pomiarów rozdzielczych przestrzennie. Najwyższa dostępna w układzie rozdzielczość pomiaru wynosi 0,5 μm. System daje również możliwość pomiarów w skali makro (zakres skanowania 50 x 50 mm). Można także wykonywać pomiary kątowo-rozdzielcze w temperaturze pokojowej oraz od 77 K, jak i w niższych temperaturach.
WYPOSAŻENIE:
- dostępne źródła pobudzenia: laser argonowy pracujący na długości fali 456 nm lub 514 nm oraz laser tytanowo-szafirowy przestrajalny w zakresie 600 x 1100 nm;
- spektrometr HORIBA JobinYvon HR460 o rozdzielczości 0,06 nm do spektralnej analizy zmierzonego sygnału oraz detektory umożliwiające pomiary w zakresie 400 x 2300 nm, w tym chłodzony ciekłym azotem wielokanałowy detektor krzemowy (kamera CCD) oraz detektor germanowy o wysokiej czułości.
WYNIK: Raport zawierający wyniki wraz z krótką charakterystyką próbek opracowany przez specjalistę
KONTAKT: Anna Wójcik-Jedlińska awojcik@ite.waw.pl
