Pomiary, charakteryzacja

Specjalizujemy się w wykonywaniu badań odporności materiałów, podzespołów oraz urządzeń elektro- nicznych i elektrycznych na narażenia klimatyczne i mechaniczne. Mamy wieloletnie doświadczenie w wykonywaniu typowych badań klimatycznych (z uwzględnien

Udostępniamy metody charakteryzacji struktur niskowymiarowych oparte na spektroskopii warstwy ładunku przestrzennego  DLTS, pomiary C(I)-V, profilowanie C-V, spektroskopia admitancyjna. Metody te, rutynowo stosowane w celu charakteryzacji głę

Dysponujemy najnowszej klasy wysokorozdzielczym dyfraktometrem rentgenowskim umożliwiającym szybkie i precyzyjne zbieranie danych o strukturach.

Udostępniamy system do pomiarów fotoluminescencji. Układ pozwala wykonywać zarówno badania podstawowe, jak i analizować własności emisyjne nowoczesnych urządzeń.

Zakład Badań Materiałów i Struktur Półprzewodnikowych specjalizuje się w strukturalnych, optycznych i elektrycznych metodach charakteryzacji.

Specjalizujemy się w strukturalnych, optycznych i elektrycznych metodach charakteryzacji. W ofercie w zakresie mikroskopii elektronowej i nanotechnologii znajdują się: transmisyjna mikroskopia elektro-nowa (TEM), trawienie zogniskowaną wiązką jonów (

Oferujemy wykorzystanie optycznych metod pomiarowych do kompleksowej charakteryzacji półprzewodników i ich powierzchni granicznych z izolatorami w przyrządach MIS. Pakiet stosowanych przez nas metod pozwala na ocenę jakości powierzchni, identyfikację

Oferujemy wykorzystanie opracowanych elektrycznych i fotoelektrycznych metod pomiarowych do kompleksowej charakteryzacji półprzewodników i ich powierzchni granicznych z izolatorami w przyrządach MIS. Pakiet stoso- wanych przez nas metod pozwala na id