|
Optyczne badanie stanu powierzchni materiałów - pomiar elipsometryczny grubości cienkich warstw i ich właściwości optycznych |  | CEL USŁUGI:
Optyczne badanie stanu powierzchni materiałów przy użyciu elipsometrii spektroskopowej.
OPIS USŁUGI:
Mierzone są zmiany charakterystyki widmowej światła spolaryzowanego (współczynniki Ψ i Δ ) w zakresie długości fal λ = 250 - 1700 nm i pod różnymi kątami padania. Głębsza analiza tych pomiarów pozwala na wyznaczenie grubości badanych warstw i zespolonego współczynnika załamania światła. W rezultacie opracowywany jest model optyczny badanej próbki. Pomiar jest wykonywany przy pomocy elipsometru spektroskopowego VASE firmy J.A. Woollam, Co.
FORMA PRZEKAZANIA WYNIKU:
Raport zawierający zmierzone zależności oraz obliczone parametry wraz z krótką charakterystyką próbek opracowana przez specjalistę.
WARUNKI TECHNICZNE (OGRANICZENIA):
rozmiary i możliwość umieszczenia w przyrządzie
Oferuje: Zakład Charakteryzacji Struktur Nanoelektronicznych |
|
