Patenty

» 2016

  • Patent: Sposób wyznaczania absorpcji różnicowej podłoży półprzewodnikowych z cienkimi warstwami
    T. Piotrowski Nr patentu: 224196
  • Patent: Elektrodowy nanosensor biochemiczny oraz sposób wytwarzania elektrodowego nanosensora biochemicznego
    A. Łaszcz, W. Nogala, A. Czerwiński, J. Ratajczak, J. Kątcki Nr patentu: 224489
  • Patent: Struktura do wytwarzania kontaktu omowego do podłoża z węglika krzemu typu n oraz sposób wytwarzania kontaktu omowego do podłoża z węglika krzemu typu n
    M. Wzorek Nr patentu: 224697

» wróć

» 2014

  • Patent: Głowica pomiarowa
    T. Piotrowski, M. Niemiec Nr patentu: 218101
  • Patent: Sposób wykrywania napromieniowania neutronami krzemu
    W. Jung, A. Misiuk, J. Bąk-Misiuk, B. Surma, C.A. Londos Nr patentu: 218404

» wróć

» 2013

  • Patent: Sposób pomiaru czasu życia nośników ładunku oraz urządzenie do pomiaru czasu życia nośników ładunku
    T. Piotrowski Nr patentu: 215719
  • Patent: Sposób pomiaru czasu życia nośników ładunku w materiałach multikrystalicznych oraz urządzenie do pomiaru czasu życia nośników ładunku
    T. Piotrowski Nr patentu: 215722
  • Patent: Matryca modulowanych źródeł promieniowania podczerwonego
    R. Grodecki, T. Piotrowski, J. Pułtorak, M. Węgrzecki Nr patentu: 216727
  • Patent: Źródło modulowanego promieniowania termicznego
    T. Piotrowski, M. Węgrzecki Nr patentu: 216728
  • Patent: Źródło modulowanego promieniowania podczerwonego oraz matryca źródeł promieniowania podczerwonego
    R. Grodecki, W. Jung, T. Piotrowski, J. Pułtorak, S. Sikorski, M. Węgrzecki Nr patentu: 216729
  • Patent: Sposób wykrywania napromieniowania krzemu elektronami
    J. Bąk-Misiuk, J. Felba, W. Jung, I.E. Megeła, A. Misiuk, M. Prujszczyk, B. Surma Nr patentu: 216858
  • Patent: Modulator podczerwieni oraz matryca modulatorów podczerwieni
    T. Piotrowski Nr patentu: 216902
  • Patent: Emiter obrazów w podczerwieni
    T. Piotrowski, M. Węgrzecki Nr patentu: 216991
  • Patent: Sposób jednoczesnego pomiaru jednorodności i parametrów rekombinacyjnych materiału półprzewodnikowego oraz urządzenie do realizacji tego sposobu
    T. Piotrowski, J. Świderski Nr patentu: 217033
  • Patent: Układ do testowania kamer termowizyjnych
    H. Polakowski, T. Piotrowski, T. Piątkowski, M. Węgrzecki, R. Dulski, P. Trzaskawka, J. Bareła Nr patentu: 217452
  • Patent: Kaseta do pasywacji chemicznej multikrystalicznych płytek krzemowych
    T. Piotrowski Nr patentu: Ru66662

» wróć

» 2012

  • Patent: Sposób zmniejszania zakłóceń biegu wiązki elektronowej w komorze skaningowego mikroskopu elektronowego oraz osłona do zmniejszania tych zakłóceń
    M. Płuska, A. Czerwiński, J. Ratajczak, J. Kątcki Nr patentu:
  • Patent: Sposób redukcji periodycznych zakłóceń obrazów rejestrowanych w skaningowym mikroskopie elektronowym
    M. Płuska, A. Czerwiński, J. Ratajczak, J. Kątcki Nr patentu: 214141
  • Patent: Sposób określania udziału zakłóceń elektrycznych i zakłóceń magnetycznych w kolumnie skaningowego mikroskopu elektronowego
    M. Płuska, A. Czerwiński, J. Ratajczak, J. Kątcki Nr patentu: 214184
  • Patent: Sposób pomiaru rezystancji powierzchniowej warstw nadzłączowych w optoelektronicznych strukturach półprzewodnikowych ze złączem p-n
    A. Czerwiński, M. Płuska, J. Ratajczak, J. Kątcki Nr patentu: 214185
  • Patent: Sposób wyznaczania kształtu obiektu z obrazu wykonanego metodą skaningowej mikroskopii elektronowej
    M. Wzorek, A. Czerwiński, J. Kątcki Nr patentu: 214189

» wróć

» 2011

  • Patent: Sonda do pomiarów parametrów elektrycznych materiałów i struktur półprzewodnikowych
    T. Piotrowski, J. Remiszewska Nr patentu: 209313
  • Patent: Sposób wytwarzania bezdefektowej strefy przypowierzchniowej w płytkach i strukturach krzemowych
    T. Piotrowski Nr patentu: 209947
  • Patent: Sposób wytwarzania warstwy typu n w płytce krzemowej typu p
    W. Jung, A. Misiuk, I.V. Antonova Nr patentu: 210683
  • Patent: Sposób pomiaru prądu wiązki elektronowej dla potrzeb ilościowej techniki prądu indukowanego wiązką elektronową
    A. Czerwiński, M. Płuska, J. Ratajczak, J. Kątcki Nr patentu: 212254

» wróć

» 2010

  • Patent: Emiter wodoru na bazie monokrystalicznej struktury krzemowej oraz sposób wytwarzania emitera wodoru na bazie monokrystalicznej struktury krzemowej
    A. Misiuk, A. Barcz, M. Prujszczyk Nr patentu: 206857
  • Patent: Sposób wytwarzania struktur krzemowych z warstwą zagrzebaną
    A. Misiuk, I.V. Antonova, M. Prujszczyk Nr patentu: 206858
  • Patent: Sposób pomiaru rezystancji warstw półprzewodnikowych
    A. Czerwiński, M. Płuska, J. Ratajczak, J. Kątcki Nr patentu: 207939
  • Patent: Sposób wyznaczania indukcji pola magnetycznego obecnego w komorze skaningowego mikroskopu elektronowego
    M. Płuska, A. Czerwiński, J. Ratajczak, J. Kątcki, Ł. Oskwarek, R. Rak Nr patentu: 208048

» wróć

» 2009

  • Patent: Przetwornik do pomiaru temperatury
    T. Piotrowski, S. Sikorski Nr patentu: 203456
  • Patent: Sposób określania gradientu temperatury i temperatury w przyrządach półprzewodnikowych
    T. Piotrowski, S. Sikorski Nr patentu: 203921

» wróć

» 2008

  • Patent: Heterozłączowy przyrząd elektroluminescencyjny
    T. Piotrowski Nr patentu: 199322
  • Patent: Sposób modyfikacji naprężeń w strukturach półprzewodnikowych
    J. Adamczewska, J. Bąk-Misiuk, J. Domagała, J. Kaniewski, A. Misiuk, M. Prujszczyk, K. Regiński Nr patentu: 200102

» wróć

» 2007

  • Patent: Sposób pomiaru szybkości rekombinacji powierzchniowej w półprzewodnikach
    T. Piotrowski, S. Sikorski Nr patentu: 195313
  • Patent: Sposób pomiaru zmiany szerekości przerwy energetycznej w półprzewodnikach
    T. Piotrowski, S. Sikorski Nr patentu: 195372
  • Patent: Sposób pomiaru czasu życia nośników nadmiarowych ładunku w półprzewodnikach
    T. Piotrowski, S. Sikorski Nr patentu: 195380
  • Patent: Sposób otrzymywania struktur krzemowych wykazujących właściwości fotoluminescencyjne
    A. Misiuk, A. Kudła, A. Iller Nr patentu: 195965
  • Patent: Sposób otrzymywania struktur krzemowych wykazujących własności fotoluminescencyjne w zakresie widzialnym i nadfioletu
    A. Misiuk, A. Wnuk, K.S. Zhuravlev, I.V. Antonova, V.P. Popov Nr patentu: 196602

» wróć

» 2006

  • Patent: Sposób pomiaru rezystywności półprzewodników
    T. Piotrowski, K. Twarowski Nr patentu: 191572
  • Patent: Sposób wyznaczania składowych brzegowych prądu diody z bramką
    A. Czerwiński Nr patentu: 194130

» wróć

» 2005

  • Patent: Sposób wytwarzania struktury półprzewodnikowej
    A. Misiuk, J. Ratajczak, I.V. Antonova, V.P. Popov Nr patentu: 190953
  • Patent: Mikroprzenośnik wibracyjny
    J. Świderski, J. Kątcki Nr patentu: 191560

» wróć

» 2004

  • Patent: Sposób wytwarzania warstwy typu p w płytce krzemowej typu n.
    W. Jung, I.V. Antonova, A. Misiuk Nr patentu: 187386

» wróć

» 2002

  • Patent: Sposób otrzymywania krzemu wykazującego właściwości fotoluminescencyjne w zakresie widzialnym
    A. Misiuk, G. Karwarz, N. Korsunskaya, B. Surma, M. Rozental Nr patentu: 183658
  • Patent: Sposób wyznaczania składowych pojemności i prądu złącza p-n
    A. Czerwiński Nr patentu: 185269

» wróć

» 2000

  • Patent: Sposób pomiaru rezystywności półprzewodników
    T. Piotrowski, K. Twarowski Nr patentu: 178989
  • Patent: Sposób wytwarzania termistorów z kobaltanów ziem rzadkich
    E. Kuźma, M. Prujszczyk Nr patentu: 179965

» wróć

» 1999

  • Patent: Sposób przyspieszonej zmiany rezystywności monokrystalicznego krzemu otrzymanego metodą Czochralskiego
    W. Jung, A. Misiuk Nr patentu: 176441
  • Patent: Sposób wyznaczania generacyjnego czasu życia nośników mniejszościowych
    A. Bąkowski, A. Czerwiński, D. Tomaszewski, J. Gibki Nr patentu: 176456

» wróć

» 1998

  • Patent: Sposób wytwarzania termistorów oskokowej zmianie rezystancji
    E. Kuźma, M. Prujszczyk Nr patentu: 175993

» wróć