O nas

Celem prac badawczo-rozwojowych pro­wa­dzo­nych w Zakła­dzie jest struk­tu­ralna, optyczna, elek­tryczna i foto­elek­tryczna cha­rak­te­ry­za­cja mate­ria­łów i przy­rzą­dów. Główne metody:

TEM — trans­mi­syjna mikro­sko­pia elek­tro­nowa (w tym HRTEM — wyso­ko­roz­dziel­cza TEM, STEM  tech­niki ana­li­tyczne TEM), sys­tem do tra­wie­nia zogni­sko­waną wiązką jonów (Focu­sed Ion Beam — FIB) oraz SEM — ska­nin­gowa mikro­sko­pia elek­tro­nowa.

Sys­tem FIB jest uży­wany do wielu pro­ce­sów mikro- i nano-technologicznych: nakła­da­nia metali (Pt, W) i die­lek­try­ków, tra­wie­nia mate­ria­łów (w tym przy­śpie­szo­nego tra­wie­nia die­lek­try­ków i poli­me­rów) oraz do pre­pa­ra­tyki pró­bek dla TEM. Moż­liwe jest two­rze­nie zapro­jek­to­wa­nych wzo­rów na róż­nych mate­ria­łach.

Uni­ka­towe w skali kraju bada­nia nie­za­wod­no­ści do 20 tran­zy­sto­rów mocy na raz (wyso­kie napię­cia do 1500 V, wyso­kie prądy do 20 A i kon­tro­lo­wana tem­pe­ra­tura do 250°C).

Pół­au­to­ma­tyczne ostrzowe pomiary elek­tryczne przy­rzą­dów dużej i małej mocy (w tym tester i sys­tem do pomia­rów impe­dan­cyj­nych w tem­pe­ra­tu­rach krio­ge­nicz­nych) w zakre­sie do 0.1 fA.

Nagro­dzony w kon­kur­sach Mistrza Tech­niki uni­kalny sys­tem badań foto­elek­trycz­nych oraz elip­so­me­tria wie­lo­spek­tralna (w tym elip­so­me­tria próż­niowa) i ana­liza spek­tro­sko­powa Ramana (w tym okre­śla­nie lokal­nej tem­pe­ra­tury i naprę­żeń).

Udział w trzech pro­jektach Unii Euro­pej­skiej, innych pro­jektach mię­dzy­na­ro­dowych, wielu pro­jek­tach kra­jo­wych i pra­cach badaw­czych na zle­ce­nie firm i jed­no­stek zewnętrz­nych. Wyniki badań opu­bli­ko­wano w set­kach arty­ku­łów w zagra­nicz­nych pismach nauko­wych i na kon­fe­ren­cjach mię­dzy­na­ro­do­wych.