Oferta

FIB

Przykłady zastosowań systemu do trawienia zogniskowaną wiązką jonów (FIB)
czytaj więcej

Oferta zaawansowanych usług badawczych
Kompleksowa analiza optyczna i fotoelektryczna próbek

1. Charakteryzacja elipsometryczna próbki w zakresie próżniowego UV
2. Określanie schematów pasmowych systemów MIS za pomocą unikatowych metod fotoelektrycznych
3. Określanie składu chemicznego, temperatury, naprężeń mechanicznych, itp.
czytaj więcej

Oferta zaawansowanych usług badawczych
Kompleksowe badanie elektryczne próbek

1. Mapowanie własności pułapek powierzchniowych w nanoprzyrządach
2. Identyfikacja elektrycznego schematu zastępczego nanostruktur i powierzchni granicznych przy użyciu spektroskopii admitancyjnej
czytaj więcej

Pomiar właściwości materiałow i struktur półprzewodnikowych metodami optycznymi

Oferujemy wykorzystanie optycznych metod pomiarowych do kompleksowej charakteryzacji półprzewodników i ich powierzchni granicznych z izolatorami w przyrządach MIS. Stosowane metody pozwalają na ocenę jakości powierzchni, identyfikację naprężeń ...
czytaj więcej

Pomiary parametrów struktury półprzewodnikowej metodami elektrycznymi i fotoelektrycznymi

Oferujemy wykorzystanie opracowanych elektrycznych i fotoelektrycznych metod pomiarowych do kompleksowej charakteryzacji półprzewodników i ich powierzchni granicznych z izolatorami w przyrządach MIS.
czytaj więcej

SEM

Przykłady zastosowań skaningowej mikroskopii elektronowej (SEM)
czytaj więcej

TEM

Przykłady zastosowań transmisyjnej mikroskopii elektronowej (TEM)
czytaj więcej

Nasza oferta obej­muje ana­lizy mate­ria­łów i przy­rzą­dów prze­pro­wa­dzone przy uży­ciu tech­nik TEM, SEM i ska­nin­go­wej mikro­sko­pii jono­wej oraz wyko­na­nie mikro- i nano­pro­ce­sów przy uży­ciu tech­niki FIB w celu mody­fi­ka­cji lub cha­rak­te­ry­za­cji mate­ria­łów i przy­rzą­dów.


Skip to content