Patenty

• Patent: Struktura detektora termoelektrycznego oraz sposób wykonywania struktury detektora termoelektrycznego
  A. Czerwiński, M. Wzorek, A. Łaszcz Nr patentu: Pat.243746

» wróć

• Patent: Sposób i układ do pomiaru natężenia i rozkładu przestrzennego promieniowania podczerwonego oraz jego szybkich zmian z nanometrową rozdzielczością przestrzenną
  A. Łaszcz, A. Czerwiński Nr patentu: 234399

» wróć

• Patent: Sposób wytwarzania sondy pomiarowej do precyzyjnych pomiarów powierzchni materiału w mikro- i nanoskali z ostrzem diamentowym
  A. Czerwiński, P. Janus, A. Łaszcz Nr patentu: 234013
• Patent: Sposób wytwarzania sondy pomiarowej umożliwiającej bezpośredni podgląd miejsca pomiaru metodami mikroskopii ze skanującą sondą
  A. Łaszcz, A. Czerwiński, P. Janus Nr patentu: 234014
• Patent: Sposób wytwarzania heterogenicznej sondy pomiarowej do precyzyjnych pomiarów powierzchni materiału w mikro- i nanoskali z pionowym ostrzem
  A. Czerwiński, A. Łaszcz Nr patentu: 234015

» wróć

• Patent: Elektrodowy nanosensor biochemiczny oraz sposób wytwarzania elektrodowego nanosensora biochemicznego
  A. Łaszcz, W. Nogala, A. Czerwiński, J. Ratajczak, J. Kątcki Nr patentu: 224489

» wróć

• Patent: Sposób zmniejszania zakłóceń biegu wiązki elektronowej w komorze skaningowego mikroskopu elektronowego oraz osłona do zmniejszania tych zakłóceń
  M. Płuska, A. Czerwiński, J. Ratajczak, J. Kątcki Nr patentu:
• Patent: Sposób redukcji periodycznych zakłóceń obrazów rejestrowanych w skaningowym mikroskopie elektronowym
  M. Płuska, A. Czerwiński, J. Ratajczak, J. Kątcki Nr patentu: 214141
• Patent: Sposób określania udziału zakłóceń elektrycznych i zakłóceń magnetycznych w kolumnie skaningowego mikroskopu elektronowego
  M. Płuska, A. Czerwiński, J. Ratajczak, J. Kątcki Nr patentu: 214184
• Patent: Sposób pomiaru rezystancji powierzchniowej warstw nadzłączowych w optoelektronicznych strukturach półprzewodnikowych ze złączem p-n
  A. Czerwiński, M. Płuska, J. Ratajczak, J. Kątcki Nr patentu: 214185
• Patent: Sposób wyznaczania kształtu obiektu z obrazu wykonanego metodą skaningowej mikroskopii elektronowej
  M. Wzorek, A. Czerwiński, J. Kątcki Nr patentu: 214189

» wróć

• Patent: Sposób pomiaru prądu wiązki elektronowej dla potrzeb ilościowej techniki prądu indukowanego wiązką elektronową
  A. Czerwiński, M. Płuska, J. Ratajczak, J. Kątcki Nr patentu: 212254

» wróć

• Patent: Emiter wodoru na bazie monokrystalicznej struktury krzemowej oraz sposób wytwarzania emitera wodoru na bazie monokrystalicznej struktury krzemowej
  A. Misiuk, A. Barcz, M. Prujszczyk Nr patentu: 206857
• Patent: Sposób pomiaru rezystancji warstw półprzewodnikowych
  A. Czerwiński, M. Płuska, J. Ratajczak, J. Kątcki Nr patentu: 207939
• Patent: Sposób wyznaczania indukcji pola magnetycznego obecnego w komorze skaningowego mikroskopu elektronowego
  M. Płuska, A. Czerwiński, J. Ratajczak, J. Kątcki, Ł. Oskwarek, R. Rak Nr patentu: 208048

» wróć

• Patent: Sposób wyznaczania składowych brzegowych prądu diody z bramką
  A. Czerwiński Nr patentu: 194130

» wróć

• Patent: Sposób wyznaczania składowych pojemności i prądu złącza p-n
  A. Czerwiński Nr patentu: 185269

» wróć

• Patent: Sposób wygrzewania arsenku galu i związków pokrewnych
  A. Barcz Nr patentu: 179028

» wróć

• Patent: Sposób wyznaczania generacyjnego czasu życia nośników mniejszościowych
  A. Bąkowski, A. Czerwiński, D. Tomaszewski, J. Gibki Nr patentu: 176456

» wróć