Opracowanie pakietu projektowego (PDK, Proces Design Kit) dla narzędzi EDA-CAD firmy Cadence Design Systems oraz Synopsys.
![Opracowanie pakietu projektowego (PDK, Proces Design Kit) dla narzędzi EDA-CAD firmy Cadence Design Systems oraz Synopsys.](http://www2.ite.waw.pl/docs/multimedia/oferta/Z09_pdk.jpg)
Opracowanie pakietu projektowego (PDK, Proces Design Kit) dla narzędzi EDA-CAD firmy Cadence Design Systems oraz Synopsys.
czytaj więcej
Opracowanie specjalizowanego układu scalonego
![Opracowanie specjalizowanego układu scalonego](http://www2.ite.waw.pl/docs/multimedia/oferta/Z09_asic.jpg)
Jest to kompleksowa oferta usługi badawczo – rozwojowej, polegającej na wykonaniu wszystkich, lub wybranych, etapów realizacji specjalizowanego układu scalonego ASIC (Application Specific Integrated Circuit).
czytaj więcej
Opracowanie systemu sterowania i akwizycji danych bazującego na sieci zarządzania budynkiem
![Opracowanie systemu sterowania i akwizycji danych bazującego na sieci zarządzania budynkiem](http://www2.ite.waw.pl/docs/multimedia/oferta/Z09_bms.jpg)
Oferta obejmuje opracowanie składników systemu sterowania i / lub akwizycji danych wykorzystującego sieć zarządzania budynkiem (BMS – ang. Building Management System) standardu LonWorks (Echelon).
czytaj więcej
Opracowanie zautomatyzowanego systemu pomiarowego dla środowiska NI LabVIEW
![Opracowanie zautomatyzowanego systemu pomiarowego dla środowiska NI LabVIEW](http://www2.ite.waw.pl/docs/multimedia/oferta/Z09_labview.png)
Oferujemy opracowania zautomatyzowanego systemu pomiarowego w oparciu o środowisko NI LabVIEW przy zastosowaniu sieciowo sterowanych przyrządów pomiarowych.
czytaj więcej
Scalony niskoszumny wielokanałowy wzmacniacz odczytowy
![Scalony niskoszumny wielokanałowy wzmacniacz odczytowy](http://www2.ite.waw.pl/docs/multimedia/oferta/Z09_wzm.png)
Oferta obejmuje gotowy, wytworzony i zweryfikowany projekt scalonego wzmacniacza pomiarowego w wersji ośmiokanałowej. Układ eliminuje potrzebę stosowania metody detekcji fazoczułej (lock-in) przy laboratoryjnych pomiarach detektorów, może być też wy
czytaj więcej