Publications

• P13403: M. Zbiec, M. Jakubowski, D. Obrebski, P. Boguszewicz, K. Zaraska, W. Grzesiak, P. Guzdek, P. Mackow, G. Kolaszczynski, D. Solnica, P. Iwanicki: “Adaptive Wireless Lighting System”, (2018).
• P13404: W. Grzesiak, P. Guzdek, P. Mackow, K. Zaraska, M. Zbiec, M. Jakubowski, D. Obrebski, P. Boguszewicz, D. Solnica, P. Iwanicki, S. Linke, A. Mahlkow: “Smart LED High CRI Lighting Systems”, Microelectronics International, vol.35, nr.3, (2018).

» return

• P13271: A. Jarosz, C. Kolacinski, J. Wasowski, A. Szymanski, E. Kurjata-Pfitzner, D. Obrebski, T. Borejko, K. Siwiec, W.A. Pleskacz: “Design and Measurements of the Specialized VLSI Circuit for Blood Oxygen Saturation Monitoring”, (2017).
• P13365: M. Borecki, M. Geca, M. Duk, M. Korwin-Pawlowski: “Miniature Gas Sensors Heads and Gas Sensing Devices for Environmental Working Conditions - A Review”, Journal of Electronics and Communication Engineering Research, vol.1, nr.2, (2017).
• P13366: M. Borecki, M. Korwin-Pawlowski, M. Geca, P. Prus: “Capillary Sensor with UV-Forced Degradation and Fluorescence Reading of Diesel and Biodiesel Fuel Chemical Stability”, (2017).

» return

• P13140: C. Kolacinski, A. Szymanski, A. Jarosz, E. Kurjata-Pfitzner, J. Wasowski, T. Borejko, K. Siwiec, W.A. Pleskacz: “The Integrated Transmitter and Receiver Modules for Pulse Oximeter System”, (2016).
• P13199: J. Szynka, M. Pilch, P. Dumania, P. Grabiec: “Znaczenie mikroelektroniki dla Czwartej Rewolucji Przemysłowej i cyberbezpieczeństwa”, Elektronika, vol.LVII, nr.8, (2016).
• P13222: A. Jarosz, C. Kolacinski, E. Kurjata-Pfitzner, A. Szymanski, J. Wasowski: “Projekt specjalizowanego układu scalonego przeznaczonego do pomiaru stopnia nasycenia krwi tlenem”, Elektronika, vol.LVII, nr.8, (2016).

» return

• P12988: K. Siwiec, K. Marcinek, R. Baraniecki, T. Borejko, A. Jarosz, J. Kopanski, E. Kurjata-Pfitzner, P. Narczyk, A. Plasota, A. Wielgus, W.A. Pleskacz: “A CMOS System-on-Chip for Physiological Parameters Acquisition, Processing and Monitoring”, (2015).
• P13058: J.F. Kolodziejski, I. Kubiak, J. Lysko: “Narażenia sprzętu elektronicznego promieniowaniem elektromagnetycznym - sposoby generacji i metody ochrony”, (2015).
• P13060: J.F. Kolodziejski, I. Kubiak, J. Lysko: “Narażenia sprzętu elektronicznego promieniowaniem elektromagnetycznym - sposoby generacji i metody ochrony”, Przegląd Elektrotechniczny, vol.91, nr.11, (2015).

» return

• P12887: A. Szymanski, D. Obrebski, J. Marczewski, D. Tomaszewski, M. Grodner, J. Pieczynski: “CMOS Readout Circuit Integrated with Ionizing Radiation Detectors”, International Journal of Electronics and Telecommunications, vol.60, nr.1, (2014).

» return

• P12571: M. Suarez Penaloza, O. Zlydareva, Hooman Habibi, Pooh Ling E: “Performance of a Multimode LTE/WiMAX Trasceiver Including the Nonlinear Interference Suppressor”, (2013).
• P12682: D. Obrebski, A. Szymanski, D. Tomaszewski, M. Grodner, J. Marczewski, J. Pieczynski: “Development of Ionizing Radiation Detectors Integrated with Readout Electronics”, (2013).

» return

• P12311: O. Zlydareva, M. Suarez Penaloza: “Mobile WiMAX Performance Analysis Including polas SD Architecture under Varoius Environmental Conditions”, (2012).
• P12427: J.F. Kolodziejski, J. Szczesny: “Nowe zadania pomiarów ostrzowych w procesie wytwarzania przyrządów półprzewodnikowych”, Elektronika, vol.LIII, nr.2, (2012).
• P12538: M. Suarez Penaloza, O. Zlydareva: “LTE Transceiver Performance Analysis in Uplink under Various Environmental Conditions”, (2012).

» return

• P11989: K.H. Hoffmann, G. Auzinger, T. Bergauer, M. Dragicevic, J. Erfle, P. Grabiec, M. Grodner, S. Hansel, F. Hartmann, E. Huemer, W. Kiesenhofer, K. Kucharski, J. Marczewski, G. Steinbruck, M. Valentan: “R&D on Novel Sensor Routing and Test Structure Development”, Nuclear Instruments & Methods in Physics Res. A, vol.628, (2011).
• P12175: K. Kucharski, C. Renaux, A. Crahay, P. Grabiec, M. Grodner, T. Bieniek, A. Panas, A. Sierakowski, H. Klos, D. Tomaszewski, D. Obrebski, J. Marczewski, D. Flandre: “Implementacja technologii FD SOI CMOS w ITE”, Elektronika, vol.LII, nr.3, (2011).
• P12203: J.F. Kolodziejski, J. Szczesny, P. Guzdek: “Elektronika w pojazdach samochodowych - charakterystyczne narażenia eksploatacyjne”, Elektronika, vol.LII, nr.4, (2011).
• P12206: J.F. Kolodziejski, J. Szczesny, P. Guzdek: “Elektronika w pojazdach samochodowych - magistrale komunikacyjne, podzespoły półprzewodnikowe”, Elektronika, vol.LII, nr.5, (2011).
• P12220: J.F. Kolodziejski, J. Szczesny, P. Guzdek: “Elektronika w pojazdach samochodowych. Jak uzyskać dużą niezawodność”, Elektronika, vol.LII, nr.6, (2011).
• P12240: O. Zlydareva, R. Mestrom, M. Suarez Penaloza, F. Riviere: “PAR4CR: The Development of a New SDR-Based Platform Towards Cognitive Ratio”, (2011).
• P12286: J. Lysko, P. Dumania, P. Janus, M. Grodner, H. Klos, K. Skwara, P. Grabiec: “Nanosensitive Silicon Microprobes for Mechanical Detection and Measurements”, Materials Sciences and Applications, vol.2, (2011).
• P12310: M. Suarez Penaloza: “Radio Frequency Filtering in the Context of Cognitive Radio Transceivers”, (2011).
• P12349: T. Bieniek, G. Janczyk, P. Grabiec, J. Szynka, S. Kalicinski, P. Janus: “Methodology and Tools for Customer-Oriented Micro and Nanodevices Efficient Product Development”, (2011).

» return

• P11894: O. Militaru, T. Bergauer, M. Bergholz, W. de Boer, K. Borras, E. Cortina Gil, A. Dierlamm, M. Dragicevic, D. Eckstein, J. Erfle, M. Fernandez, L. Feld, M. Frey, M. Friedl, E. Fretwurst, E. Gaubas, F.J. Gonzales, P. Grabiec, M. Grodner, F. Hartmann, S. Hansel, K.H. Hoffmann, J. Hrubec, R. Jaramillo, W. Karpinski, V. Kazukauskas, K. Klein, V. Khomenkov, R. Klanner, M. Krammer, K. Kucharski, W. Lange, V. Lemaitre, D. Moya, J. Marczewski, A. Mussgiller, T. Rodrigo, T. Muller, J. Sammet, P. Schleper, J. Schwandt, J. Simonis, A. Srivastava, G. Steinbruck, D. Tomaszewski, S. Sakalauskas, J. Storasta, J.V. Vaitkus, A. Lopez Virto, I. Vila, E. Zasinas: “Simulation of Electrical Parameters of New Design of SLHC Silicon Sensors for Large Radii”, Nuclear Instruments & Methods in Physics Res. A, vol.617, (2010).
• P11987: G. Auzinger, T. Bergauer, M. Dragicevic, S. Hansel, Ch. Irmler, W. Kiesenhofer, M. Valentan, P. Grabiec, M. Grodner, K. Kucharski, J. Marczewski: “Silicon Strip Sensors with Integrated Pitch Adapters”, (2010).
• P11994: G. Janczyk, T. Bieniek, J. Szynka, P. Grabiec: “Investigation on Mechanical Stress Influence on MOS Transistor Parameter Fluctuation in 3D Heterogeneous Devices”, (2010).
• P12018: A. Szymanski, E. Kurjata-Pfitzner, J. Wasowski, J. Lesinski: “Practical Issues of 2.4 GHz RF Circuit Design: Simulation Versus Measurement Results”, (2010).
• P12025: T. Bieniek, G. Janczyk, P. Grabiec, J. Szynka, S. Kalicinski, P. Janus, K. Domanski, A. Sierakowski, M. Ekwinska, D. Szmigiel, D. Tomaszewski, G. Holzer, G. Schröpfer: “Customer-Oriented Product Engineering of Micro and Nano Devices”, (2010).
• P12040: J. Lusakowski, W. Knap, P. Kopyt, W. Gwarek, M. Ratajczyk, J. Marczewski, J. Szynka: “THz Detection with Si Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistors: Current Status and Perspectives”, (2010).
• P12076: T. Bieniek, G. Janczyk, S. Kalicinski, P. Janus, K. Domanski, P. Grabiec, J. Szynka: “Methodology and Tools for Customer-Oriented Product Engineering of Micro and Nano Devices”, (2010).
• P12094: T. Bieniek, G. Janczyk, P. Grabiec, J. Szynka, S. Kalicinski, P. Janus: “Micro and Nano Device - Customer-Oriented Product e-Engineering in e-CoFrame”, (2010).
• P12146: K. Kucharski, C. Renaux, A. Crahay, P. Grabiec, M. Grodner, T. Bieniek, A. Panas, A. Sierakowski, H. Klos, D. Tomaszewski, D. Obrebski, J. Marczewski, D. Flandre: “Implementation of FD SOI CMOS Technology in ITE”, (2010).
• P12154: T. Bieniek, G. Janczyk, P. Grabiec, J. Szynka: “Fizyczne aspekty niezawodności w modelowaniu zintegrowanych mikrosystemów”, Przegląd Elektrotechniczny, vol.86, nr.10, (2010).

» return

• P11542: T. Bergauer, M. Dragicevic, M. Frey, P. Grabiec, M. Grodner, S. Haensel, F. Hartmann, K. Hoffman, J. Hrubec, M. Krammer, K. Kucharski, A. Macchiolo, J. Marczewski: “Results from a First Production of Enhanced Silicon Sensor Test Structures Produced by ITE Warsaw”, Nuclear Instruments & Methods in Physics Res. A, nr.598, (2009).
• P11771: T. Bieniek, G. Janczyk, P. Janus, J. Szynka, P. Grabiec: “Reliability Issues in Modeling and Simulations of the Heterogeneous Integrated Systems”, (2009).
• P11782: G. Janczyk, T. Bieniek, P. Grabiec, J. Szynka: “Thermo-Mechanical Aspects of Reliability for Vertically Integrated Heterogeneous Systems”, (2009).
• P11865: E. Kurjata-Pfitzner, A. Szymanski, J. Wasowski: “Wpływ rozrzutu procesu technologicznego na parametry scalonych układów RF i jego redukcja poprzez autokalibrację”, Elektronika, vol.L, nr.10, (2009).
• P11879: J. Szczesny: “Wpływ konstrukcji cyfrowych układów scalonych na generację zaburzeń elektromagnetycznych”, Elektronika, vol.L, nr.11, (2009).
• P11888: G. Janczyk, T. Bieniek, P. Grabiec, J. Szynka: “Thermo-Mechanical Aspects of Reliability for Vertically Integrated Heterogeneous Systems”, Elektronika, vol.L, nr.12, (2009).
• P11955: P. Grabiec, W. Kuzmicz, A. Napieralski: “Nanoelektronika w Polsce: Bariery, szanse i kierunki działania. Stan obecny i perspektywy rozwoju dziedziny w Polsce www.keit.pan.pl”, (2009).

» return

• P10750: A. Szymanski, E. Kurjata-Pfitzner, J. Lesinski, J. Wasowski: “The Self-calibrated IR Mixer with Low IF”, Analog Integrated Circuits and Signal Processing, vol.55, nr.2, (2008).
• P11470: T. Bieniek, P. Janus, A. Kociubinski, P. Grabiec, G. Janczyk, J. Szynka: “Coupled Thermo-electro-mechanical Modeling and Simulation of 3D Micro- and Nanostructures”, Elektronika, nr.1, (2008).
• P11503: A. Malinowski, P. Grabiec, M. Grodner, K. Kucharski, D. Tomaszewski, A. Jakubowski: “Analysis of the Technological Processes Dispersion Based on Electrical Measurements of Test Structures”, (2008).
• P11568: T. Bieniek, P. Janus, A. Kociubinski, P. Grabiec, G. Janczyk, J. Szynka: “Integrated Multi-domain Modeling and Simulation of Complex 3D Micro- and Nanostructures”, (2008).
• P11581: E. Kurjata-Pfitzner, A. Szymanski: “Amplitude Comparator for Self-calibration Circuit of IR Mixer”, (2008).
• P11604: T. Bieniek, G. Janczyk, P. Janus, P. Grabiec, J. Szynka: “e-CUBES Devices and Interconnects-integrated Modeling and Simulation for Reliability Analysis”, (2008).
• P11615: P. Dumania, J. Lysko, H. Klos, M. Grodner, K. Skwara, D. Szmigiel: “Oscylator pierścieniowy CMOS jako układ detekcji odkształcenia nanoczułych mikrosond krzemowych”, Elektronika, nr.6, (2008).
• P11630: G. Janczyk, T. Bieniek, J. Szynka, P. Grabiec: “Reliability Issues of e-Cubes Heterogeneous System Integration”, Microelectronics Reliability, vol.48, (2008).
• P11643: E. Kurjata-Pfitzner, A. Szymanski: “Amplitude Comparator for Self-calibration Circuit of IR Mixer”, Electronics and Telecommunications Quarterly, vol.54, nr.4, (2008).
• P11668: J. Szczesny, J.F. Kolodziejski: “Cyfrowe Układy scalone o niskich poziomach napięcia zasilającego”, Elektronika, nr.10, (2008).
• P11669: G. Janczyk, T. Bieniek, J. Szynka, P. Grabiec: “Integrated Thermal Modeling of Heterogeneous eCubes Stacked Devices”, (2008).
• P11755: J.F. Kolodziejski: “Skutki przepięć i wyładowań ESD w przyrządach i układach półprzewodnikowych - wybrane problemy”, (2008).

» return

• P10578: G. Janczyk, T. Bieniek, P. Janus, A. Kociubinski, P. Grabiec, J. Szynka, S. Reitz, P. Schneider, E. Kaulfresch, J. Weber: “Integrated Thermo-electro-mechanical Modeling of 3D E-cubes Structures”, (2007).
• P10737: E. Kurjata-Pfitzner, J. Lesinski, A. Szymanski: “Some Practical Aspects of Integrated 2.4 GHz Quadrature VCO Design”, (2007).
• P10749: G. Janczyk, T. Bieniek, P. Janus, A. Kociubinski, P. Grabiec, J. Szynka, S. Reitz, P. Schneider, E. Kaulfresch, J. Weber: “The High Level Thermo-electrical Modeling of the Complex 3D IC Structures”, (2007).
• P11420: J.F. Kolodziejski, T. Daniluk, M. Szermer, J. Szczesny: “Badania odporności układów scalonych na zaburzenia elektromagnetyczne impulsowe”, Przegląd Elektrotechniczny, vol.83, nr.9, (2007).
• P11421: J. Szczesny, J.F. Kolodziejski: “Wpływ nieciągłości impedancji linii paskowych na integralność sygnałową i EMC”, Przegląd Elektrotechniczny, vol.83, nr.9, (2007).
• P11457: D. Obrebski, K. Kucharski, M. Grodner, A. Kokoszka, A. Malinowski, J. Lesinski, D. Tomaszewski, J. Malesinska: “Development of MPW Service for Academies Based on ITE Proprietary CMOS Process”, (2007).
• P11514: J. Szczesny, J.F. Kolodziejski: “EM Emission of ICs Implemented In FPGA - Influence of Floor Plan and Electric Function”, Electron Technology - Internet Journal, vol.39, nr.4, (2007).

» return

• P10002: M. Caccia, L. Badano, D. Berst, C. Bianchi, J. Bol, C. Cappellini, G. Caus, C. Colledani, L. Conte, A. Czermak, G. Deptuch, W. de Boer, K. Domanski, B. Dulny, O. Ferrando, E. Grigoriev, P. Grabiec, M. Grodner, R. Lorusso, B. Jaroszewicz, M. Jastrzab, L. Jungermann, T. Klatka, A. Kociubinski, M. Koziel, W. Kucewicz, K. Kucharski, S. Kuta, J. Marczewski, A. Mozzanica, H. Niemec, R. Novario, Y. Popowski, M. Prest, A. Przykutta, J.L. Riester, M. Rovere, M. Sapor, H. Schweickert, B Sowicki, M. Szelezniak, D. Tomaszewski, A. Zalewska: “The SUCIMA Project: A Status Report on High Granularity Dosimetry and Proton Beam Monitoring”, Nuclear Instruments & Methods in Physics Res. A, vol.560, (2006).
• P10030: J.F. Kolodziejski: “Projektowanie i symulacja układów elektronicznych”, Elektronika, nr.12, (2006).
• P10032: J.F. Kolodziejski: “Działalność normalizacyjna dotycząca układów scalonych i kompatybilności elektromagnetycznej”, Normalizacja, nr.9, (2006).
• P10033: Z. Piatek, W.A. Pleskacz, J.F. Kolodziejski: “Transmission Line Pulsing Tester for On-Chip ESD Protection Testing”, (2006).
• P10136: A. Bulgheroni, L. Badano, D. Berst, C. Bianchi, J. Bol, M. Caccia, C. Cappellini, G. Caus, C. Colledani, L. Conte, A. Czermak, G. Deptuch, W. de Boer, K. Domanski, W. Dulinski, B. Dulny, O. Ferrando, E. Grigoriev, P. Grabiec, M. Grodner, R. Lorusso, B. Jaroszewicz, M. Jastrzab, L. Jungermann, T. Klatka, A. Kociubinski, M. Koziel, W. Kucewicz, K. Kucharski, S. Kuta, J. Marczewski, A. Mozzanica, H. Niemec, R. Novario, L. Paolucci, Y. Popowski, M. Prest, A. Przykutta, J.L. Riester, M. Rovere, M. Sapor, H. Schweickert, B. Spano, M. Szelezniak, D. Tomaszewski, A. Zalewska: “Silicon Ustra fast Cameras for Electron and y Sources in Medical Applications: a Progress Report”, Nuclear Physics B - Proc. Suppl., vol.150, (2006).
• P10212: J. Marczewski, K. Domanski, P. Grabiec, M. Grodner, B. Jaroszewicz, A. Kociubinski, K. Kucharski, D. Tomaszewski, M. Caccia, W. Kucewicz, H. Niemec: “Technology Development for SOI Monolithic Pixel Detectors”, Nuclear Instruments & Methods in Physics Res. A, vol.560, (2006).
• P10299: K. Siekierska, P. Fras, A. Kokoszka, T. Kostienko, Z. Pliva, N. Lugowski, D. Obrebski, A. Pawlak, P. Penkala, D. Stachanczyk, M. Szlezak: “Distributed Collaborative Design of IP Componetnts in the TRMS Environment”, Microelectronics Reliability, vol.46, nr.5-6, (2006).
• P10325: A. Szymanski, E. Kurjata-Pfitzner: “Effects of Package and Process Variation on 2.4 GHz Analog Integrated Circuits”, Microelectronics Reliability, vol.46, (2006).

» return

• P10119: W. Kucewicz, A. Bulgheroni, M. Caccia, K. Domanski, P. Grabiec, M. Grodner, B. Jaroszewicz, M. Jastrzab, A. Kociubinski, K. Kucharski, S. Kuta, J. Marczewski, H. Niemec, M. Sapor, D. Tomaszewski: “Fully Depleted Monolithic Active Pixel Sensor in SOI Technology”, (2005).
• P10138: H. Niemec, A. Bulgheroni, M. Caccia, P. Grabiec, M. Grodner, M. Jastrzab, W. Kucewicz, K. Kucharski, S. Kuta, J. Marczewski, M. Sapor, D. Tomaszewski: “Monolihtic Active Pixel Sensor Realized in SOI Technology - Concept and Verification”, Microelectronics Reliability, vol.45, nr.7-8, (2005).
• P10176: A. Filipkowski, Z. Brzozka, W. Wroblewski, L. Opalski, J. Ogrodzki, A. Kobus, B. Jaroszewicz, P. Moschetta, L. Sanfilippo, R. Allabashi, P. Temple-Boyer, I. Humenyuk: “System for European Water Monitoring (SEWING)”, (2005).
• P10177: J.F. Kolodziejski: “Wyładowania elektroststyczne ESD - zagadnienia techniczne i normalizacyjne”, Elektryka - Zeszyty Naukowe Politechniki Łódzkiej, vol.103, nr.962, (2005).
• P10178: J.F. Kolodziejski: “Odporność cyfrowych układów scalonych na elektryczne narażenia zewnętrzne”, Zeszyty Naukowe Politechniki Gdańskiej, Technologie Informacyjne, nr.3, (2005).
• P10179: J.F. Kolodziejski: “Sondy (czujniki) pola elektromagnetycznego bliskiego”, (2005).
• P10180: J.F. Kolodziejski, P. Grybos: “Różnicowa niskonapięciowa transmisja sygnałów LVDS”, Elektronika, nr.5, (2005).
• P10181: J.F. Kolodziejski, J. Szczesny: “Integralnośc sygnału i zagadnienia kompatybilności elektromagnetycznej”, (2005).
• P10182: K. Kamuda, W. Kalita, J.F. Kolodziejski: “Aspekty kompatybilności elektromagnetycznej w systemach transmisji danych z magistralą CAN”, Elektryka - Zeszyty Naukowe Politechniki Łódzkiej, vol.103, nr.962, (2005).
• P10183: K. Kamuda, W. Kalita, J.F. Kolodziejski: “The Analysis of Signal Propagation in Transmission Lines in the Configuration of CAN-bus Controller”, (2005).
• P10184: M. Szermer, J.F. Kolodziejski, J. Szczesny: “Dynamic Stability of ADCs and their Immunity to Electromagnetic Disturbaces”, (2005).
• P10300: Z. Pliva, O. Novak, K. Siekierska, M. Grodner: “Test_ACCESS Circuit for Education”, (2005).
• P10301: Z. Pliva, O. Novak, K. Siekierska, M. Grodner: “Test_ACCESS Block Serial Scan VS. Random ACCESS Scan”, (2005).
• P10376: K. Domanski, P. Grabiec, M. Grodner, B. Jaroszewicz, T. Klatka, A. Kociubinski, M. Koziel, W. Kucewicz, K. Kucharski, S. Kuta, W. Machowski, J. Marczewski, H. Niemec, M. Sapor, M. Szelezniak, D. Tomaszewski: “Monolithic Active Pixel Detector in SOI Technology”, (2005).
• P10383: M. Grodner, T. Klatka, M. Koziel, W. Kucewicz, K. Kucharski, J. Marczewski, H. Niemec, M. Sapor, M. Szelezniak, D. Tomaszewski: “CMOS SOI Technology Characterization and Verification of Device Models for Analogue Design”, (2005).
• P10409: K. Kucharski, D. Tomaszewski, M. Grodner, W. Dutkiewicz, P. Grabiec, K. Hejduk, A. Kociubinski, J. Malesinska, A. Kokoszka, D. Obrebski, J. Szynka: “MPW Service for Manufacturing of CMOS ASICs in a National Center of Silicon Micro- and Nano-Technology”, (2005).
• P10413: E. Kurjata-Pfitzner, A. Szymanski: “Wybrane problemy projektowania układów RF”, Elektronika, nr.2-3, (2005).
• P10414: E. Kurjata-Pfitzner, A. Szymanski: “Wybrane problemy projektowania układów RF”, (2005).
• P10486: D. Tomaszewski, K. Domanski, P. Grabiec, M. Grodner, B. Jaroszewicz, T. Klatka, A. Kociubinski, M. Koziel, W. Kucewicz, K. Kucharski, S. Kuta, J. Marczewski, H. Niemec, M. Sapor, M. Szelezniak: “Design, Fabrication and Characterization of SOI Pixel Detectors of Ionizing Radiation”, (2005).
• P10551: M. baranski, K. Domanski, P. Grabiec, M. Grodner, B. Jaroszewicz, A. Kociubinski, W. Kucewicz, K. Kucharski, J. Marczewski, H. Niemec, M. Sapor, D. Tomaszewski: “TSSOI as an Efficient Tool for Diagnostics of SOI Technology in Institute of Electron Technology”, Journal of Telecommunications and Information Technology, nr.1, (2005).
• P10574: J. Marczewski, M. Caccia, K. Domanski, P. Grabiec, M. Grodner, B. Jaroszewicz, T. Klatka, A. Kociubinski, M. Koziel, W. Kucewicz, K. Kucharski, S. Kuta, H. Niemec, M. Sapor, M. Szelezniak, D. Tomaszewski: “Monolithic Silicon Pixel Detectors in SOI Technology”, Nuclear Instruments & Methods in Physics Res. A, vol.549, nr.1-3, (2005).

» return

• P10118: A. Bulgheroni, M. Caccia, K. Domanski, P. Grabiec, M. Grodner, B. Jaroszewicz, T. Klatka, A. Kociubinski, M. Koziel, W. Kucewicz, K. Kucharski, S. Kuta, J. Marczewski, H. Niemec, M. Sapor, M. Szelezniak, D. Tomaszewski: “Monolithic Active Pixel Detector Realized in Silicon on Insulator Technology”, Nuclear Instruments & Methods in Physics Res. A, vol.535, nr.1-2, (2004).
• P10120: H. Niemec, K. Domanski, P. Grabiec, M. Grodner, B. Jaroszewicz, T. Klatka, A. Kociubinski, M. Koziel, W. Kucewicz, K. Kucharski, S. Kuta, J. Jasielski, J. Marczewski, M. Sapor, M. Szelezniak, D. Tomaszewski: “Monolithic Active Pixel Detector in SOI Technology - Preliminary Results”, (2004).
• P10122: H. Niemec, M. Jastrzab, W. Kucewicz, S. Kuta, M. Sapor, M. Szelezniak, K. Domanski, P. Grabiec, M. Grodner, B. Jaroszewicz, A. Kociubinski, K. Kucharski, J. Marczewski, D. Tomaszewski, A. Czermak, B. Dulny, B Sowicki, A. Zalewska, A. Bulgheroni, M. Caccia: “Preliminary Measurements of the Monolithic Active Pixel Detector Realized in the SOI Technology”, (2004).
• P10400: J.F. Kolodziejski: “Terroryzm elektromagnetyczny”, Radioelektronik, nr.10, (2004).
• P10401: J.F. Kolodziejski, J. Szczesny: “Testing o Penetration of E and H Fields Into ICs”, (2004).
• P10402: J.F. Kolodziejski, J. Szczesny: “Electromagnetic Emissions of Integrated Circuits-influence of Some External Conditions”, (2004).
• P10403: J.F. Kolodziejski, W. Kalita, K. Kamuda: “Magistrala CAN. Struktura, właściwości i zastosowania; Część I. Ogólna charakterystyka”, Elektronika, nr.6, (2004).
• P10404: J.F. Kolodziejski, W. Kalita, K. Kamuda: “Magistrala CAN - struktura, właściwości i zastosowania. Część II. Protokół CAN”, Elektronika, nr.7, (2004).
• P10405: J.F. Kolodziejski, W. Kalita, K. Kamuda: “Magistrala CAN - struktura, właściwości i zastosowania. Część III. Wykorzystanie magistrali CAN w praktyce”, Elektronika, nr.10, (2004).
• P10479: K. Siekierska, A. Kokoszka, D. Obrebski, N. Lugowski, P. Fras, T. Kostienko, A. Pawlak, P. Penkala, D. Stachanczyk, M. Szlezak: “System TRMS w zastosowaniu do projektowania komponentów IP”, Elektronika, nr.11, (2004).
• P10480: K. Siekierska, A. Kokoszka, D. Obrebski, N. Lugowski, P. Fras, T. Kostienko, A. Pawlak, P. Penkala, D. Stachanczyk, M. Szlezak: “Verification of TRMS with IP Component Design”, (2004).
• P10481: B. Hoppe, N. Lugowski, K. Siekierska, D. Obrebski: “Applications Specifie Instruction Set Computers as Hardware Implementations of the JAVA Virtual Machine”, (2004).
• P10482: J. Szczesny, J.F. Kolodziejski: “Dobór i zastosowanie elektrycznych sond pomiarowych”, Elektronika, (2004).
• P10623: K. Domanski, P. Grabiec, M. Grodner, B. Jaroszewicz, J. Jasielski, M. Jastrzab, T. Klatka, M. Koziel, W. Kucewicz, K. Kucharski, S. Kuta, J. Marczewski, H. Niemec, M. Sapor, D. Tomaszewski: “Mozaikowy detektor monolityczny z aktywnymi komórkami w technologii SOI”, Elektronika, nr.10, (2004).
• P10658: J.F. Kolodziejski, J. Szczesny: “Electromagnetic Emissions of Integrated Circuits - Influence of Some External Conditions”, (2004).
• P10682: J. Marczewski, K. Domanski, P. Grabiec, M. Grodner, B. Jaroszewicz, A. Kociubinski, K. Kucharski, D. Tomaszewski, W. Kucewicz, S. Kuta, W. Machowski, H. Niemec, M. Sapor, M. Caccia: “SOI Active Pixel Detectors of Ionizing Radiation-technology and Design Development”, IEEE Transactions on Nuclear Science, vol.51, nr.3, (2004).
• P10707: J. Szczesny, J.F. Kolodziejski, D. Obrebski: “Wpływ częstotliwości traktowania na poziom generowanych zaburzeń programowych matryc cyfrowych”, Elektronika, nr.2, (2004).
• P10708: J. Szczesny, J.F. Kolodziejski, D. Obrebski: “Electromagnetic Emissions og Digital Circuits Implemented in XILINX FPGAs XC 4025E and XCV 800”, Electron Technology - Internet Journal, vol.36, nr.2, (2004).
• P10712: A. Szymanski, E. Kurjata-Pfitzner: “Effec of Package on RF Circuits Design”, (2004).
• P10713: A. Szymanski, E. Kurjata-Pfitzner: “Wpływ obudowy na parametry scalonych układów RF”, Elektronika, nr.11, (2004).

» return

• P10573: J. Marczewski, K. Domanski, P. Grabiec, M. Grodner, B. Jaroszewicz, A. Kociubinski, K. Kucharski, D. Tomaszewski, W. Kucewicz, S. Kuta, W. Machowski, H. Niemec, M. Sapor, M. Caccia: “SOI Active Pixel Detectors of Ionizing Radiation-technology & Design Development”, (2003).
• P10770: M. Amati, M. baranski, A. Bulgheroni, M. Caccia, K. Domanski, P. Grabiec, M. Grodner, B. Jaroszewicz, W. Kucewicz, K. Kucharski, S. Kuta, W. Machowski, J. Marczewski, H. Niemec, M. Sapor, D. Tomaszewski: “Hybrid Active Pixel Sensors and SOI Inspired Option”, Nuclear Instruments & Methods in Physics Res. A, vol.511, nr.1-2, (2003).
• P10776: M. baranski, K. Domanski, P. Grabiec, M. Grodner, B. Jaroszewicz, A. Kociubinski, W. Kucewicz, K. Kucharski, J. Marczewski, H. Niemec, M. Sapor, D. Tomaszewski: “TSSOI as an Efficient Tool for Diagnostics of SOI Technology in the IET”, (2003).
• P10778: A. Bardossy, A. Blinowska, Z. Jaworski, M. Mitura, W. Kuzmicz, J. Ollitraut, A. Penciolelli, D. Sarna, A. Walkanis, A. Wielgus, A. Wojtasik: “Application of Fuzzy Logic to Pacemaker Control”, Biocybernetics and Biomedical Engineering, vol.23, nr.1, (2003).
• P10833: A. Kokoszka, N. Lugowski, Q.T. Nguyen, D. Obrebski, A. Pawlak, K. Siekierska, M. Carballeda, B. Schlichter: “Collaborative Design of the FWMI (FPGa Pulse Width Modulator Industrial Version)”, (2003).
• P10835: J.F. Kolodziejski: “Zasilacze impulsowe jako źródło zaburzeń elektromagnetycznych”, Radioelektronik, nr.1, (2003).
• P10837: J.F. Kolodziejski: “Kompatybilność elektromagnetyczna, ocena zgodności i oznaczenie CE”, Elektronika, nr.4, (2003).
• P10838: J.F. Kolodziejski: “Kompatybilność elektromagnetyczna układów scalonych - metody badań emisji i odporności, propozycje dotyczące modelowania”, Zeszyty Naukowe Politechniki Łódzkiej - Elektryka, nr.100, (2003).
• P10853: E. Kurjata-Pfitzner: “Some Practical Aspects of Integrated RF circuit Design. Case Study-2,4-GHz VCO”, (2003).
• P10877: J. Marczewski, M. Caccia, K. Domanski, P. Grabiec, M. Grodner, B. Jaroszewicz, T. Klatka, A. Kociubinski, M. Koziel, W. Kucewicz, K. Kucharski, S. Kuta, H. Niemec, M. Sapor, M. Szelezniak, D. Tomaszewski: “Monolithic Silicon Pixel Detectors in SOI Technology”, (2003).
• P10878: J. Marczewski, K. Domanski, P. Grabiec, M. Grodner, B. Jaroszewicz, A. Kociubinski, K. Kucharski, D. Tomaszewski, W. Kucewicz, S. Kuta, W. Machowski, H. Niemec, M. Sapor, M. Caccia: “SOI Active Pixel Detectors of Ionizing Radiation-technology & Design Development”, (2003).
• P10896: Q.T. Nguyen, K. Siekierska, A. Kobus, D. Obrebski, N. Lugowski, A. Kokoszka, Q.M. Nguyen: “A Hardware/Software Configuration and Verification Environment for Automation of Embedded Microcontroller Design Process”, (2003).
• P10897: H. Niemec, T. Klatka, M. Koziel, W. Kucewicz, S. Kuta, W. Machowski, M. Sapor, M. Szelezniak, K. Domanski, P. Grabiec, M. Grodner, B. Jaroszewicz, A. Kociubinski, K. Kucharski, J. Marczewski, D. Tomaszewski: “Technology Development for Silicon Monolithic Pixel Sensor in SOI Technology”, (2003).
• P10898: H. Niemec, T. Klatka, M. Koziel, W. Kucewicz, S. Kuta, W. Machowski, M. Sapor, M. Szelezniak, K. Domanski, P. Grabiec, M. Grodner, B. Jaroszewicz, A. Kociubinski, K. Kucharski, J. Marczewski, D. Tomaszewski: “Rozwój technologii SOI do realizacji monolitycznego detektora mozaikowego”, Elektronizacja, nr.10, (2003).
• P10899: D. Obrebski, K. Siekierska, Q.T. Nguyen, N. Lugowski, A. Kokoszka: “Digital IP Cores Design at RTL and Behavioral Level”, (2003).
• P10900: A. Pawlak: “EU Projects Related to Colleg Workshop”, (2003).
• P10929: K. Siekierska, D. Obrebski, N. Lugowski, Q.T. Nguyen, A. Kokoszka: “Practical Aspects of Binary Floating Point Unit Design”, (2003).
• P10936: A. Szewczyk, L. Spiralski, J.F. Kolodziejski: “Programowe metody zmniejszania zakłóceń w pomiarach szumów struktur elementów półprzewodnikowych”, (2003).

» return

• P10836: J.F. Kolodziejski: “Zagrożenia od elektryczności statycznej w przemyśle półprzewodnikowym i stosowane środki zaradcze”, (2002).
• P11018: L. Hasse, J.F. Kolodziejski, J. Piasecki, L. Spiralski: “ Zakłócenia w układach cyfrowych. Mechanizmy i metody pomiaru ”, Elektronika, nr.6, (2002).
• P11028: A. Kobus, T. Janiszewski, W.A. Pleskacz, W. Kuzmicz: “ Application Specific Integrated Circuits for Local Industries: the Polish Experience ”, (2002).
• P11029: A. Kokoszka, K. Siekierska, Q.T. Nguyen, P. Fras, A. Pawlak: “ Are Workflow Management Systems Useful for Collaborative Engineering ”, (2002).
• P11031: J.F. Kolodziejski, Kucinski: “ Use of Power Supply Currents for Electromagnetic Compatibility Investigation of Digital Integrated Circuits ”, (2002).
• P11032: J.F. Kolodziejski, J. Szczesny: “ Zaburzenia elektromagnetyczne wytwarzane przez cyfrowe układy scalone ”, Elektronizacja, nr.10, (2002).
• P11033: J.F. Kolodziejski, J. Szczesny: “ Testing of Integrated Circuits to Electromagnetic Disturbances ”, (2002).
• P11034: J.F. Kolodziejski: “ Selection of Test Signals and Parametric Estimation of Susceptibility of Integrated Circuits to Electromagnetic Conduced Disturbance ”, (2002).
• P11045: W. Kuzmicz, M. Grodner, A. Kobus, A. Kokoszka, A. Kowalczyk, E. Kurjata-Pfitzner, N. Lugowski, D. Obrebski, A. Pawlak, W. Podmiotko, K. Siekierska, J. Wasowski: “ Department of Integrated Circuits' and Systems' Design ”, Prace ITE, nr.8-12, (2002).
• P11071: J. Marczewski, K. Domanski, P. Grabiec, M. Grodner, K. Kucharski, B. Jaroszewicz, A. Kociubinski, D. Tomaszewski, W. Kucewicz, S. Kuta, H. Niemec, M. Sapor: “ Monolithic Silicon Pixel Detectors in SOI Technology ”, (2002).
• P11087: Q.T. Nguyen, A. Kokoszka, K. Siekierska, A. Pawlak, D. Obrebski, N. Lugowski: “ Organization of a Microprocessor Design Process Using Internet-based Interoperable Workflows ”, (2002).
• P11091: W. Podmiotko, E. Kurjata-Pfitzner, A. Szymanski: “ Problemy projektowania scalonego transceivera do krótkozasięgowej łączności radiowej typu Bluetooth ”, Elektronika, nr.9, (2002).
• P11112: K. Siekierska: “ Some Practical Aspects of Microprocessor Behavioral Modeling ”, (2002).
• P11113: K. Siekierska, D. Obrebski: “ Behavioral vs. RTL Modeling - Signal Processor Case Study ”, (2002).
• P11155: E. Kurjata-Pfitzner: “ 2.4 GHz VCO Design with Compensation of Process Variations ”, Electron Technology - Internet Journal, vol.34, nr.3, (2002).
• P11162: T. Cibakova, M. Fischerova, E. Gramatova, W. Kuzmicz, W.A. Pleskacz, J. Raik, R. Ubar: “ Hierarchical Test Generation for Combinational Circuits with Real Defects Coverage ”, Microelectronics Reliability, vol.42, (2002).
• P11163: W.A. Pleskacz, D. Kasprowicz, T. Oleszczak, W. Kuzmicz: “ CMOS Standard Cells Characterisation for Defect Based Testing ”, (2002).

» return

• P11030: J.F. Kolodziejski: “ Badania kompatybilności elektromagnetycznej przy zastosowaniu małej klatki Faraday'a, ”, Elektronika - Zeszyty Naukowe Politechniki Łódzkiej, nr.6, (2001).
• P11124: J.F. Kolodziejski, K. Kosnowski, J. Marciak-Kozlowska, A. Misiuk, T. Piotrowski, J. Pultorak, S. Sikorski, A. Szczesny: “ Department of Fundamental Problems of Electronics ”, Prace ITE, nr.8-12, (2001).

» return